用途介紹:用于工藝等同步輻射樣品載體、PVD/CVD鍍膜做襯底、磁控濺射生長(zhǎng)樣品、XRD、SEM、原子力、紅外光譜、熒光光譜等分析測(cè)試基底、分子束外延生長(zhǎng)的基底、X射線分析晶體半導(dǎo)體
石墨烯銅線(表面鍍單層石
CVD石墨烯專用銅箔 C
Spectrum 電學(xué)測(cè)
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